手持X射線熒光光譜儀是一種新的分析技術，在冶金、地質勘探、建材、環保等各個方面都有廣泛應用，對比其他分析檢測方法，X射線熒光光譜儀有什么優勢特點呢：

　　(1) X射線熒光(XRF)分析方法分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般只需2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　(2) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

　　(3)X射線熒光(XRF)分析方法是非破壞分析。測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

　　(4)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

　　(5)X射線熒光(XRF)分析方法分析精密度高，常規的樣品基本上可以通過X射線熒光(XRF)分析方法完成元素的分析。

　　任何一種分析儀方法都存在一定的缺點，而X射線熒光光譜儀對于輕元素的靈敏度要低一些，比如鋁鎂硅磷這些輕元素，需要用更先進的探測器和技術計算方法做測試。

　　因此，X射線熒光(XRF)分析方法還是比較方便，簡單，便捷的元素分析方法，是能夠幫助用戶了解物質材料成分的一款有效的儀器。

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